一、考試總體要求
1. 掌握光電檢測(cè)基本技術(shù),包括光電式傳感器、光纖傳感器及傳感器預(yù)處理技術(shù)。
2. 掌握線陣及面陣 CCD 的基本工作原理及其應(yīng)用技術(shù)。
二、考試內(nèi)容及比例
1. 光電檢測(cè)技術(shù)(50%)
(1) 光衍射和光掃描與圖像掃描檢測(cè)技術(shù)
(2) 光纖傳感技術(shù)
(3) 光信息處理和像傳感檢測(cè)技術(shù)
2. 圖像傳感器應(yīng)用技術(shù)(50%)
(1) 光電轉(zhuǎn)換的基本原理及特性
(2) 典型線陣、面陣 CCD 的工作原理及其驅(qū)動(dòng)器
(3) CCD 輸出信號(hào)的 A/D 數(shù)據(jù)采集原理與應(yīng)用考試題型為基本概念、分析與計(jì)算類型題。
三、考試形式及時(shí)間
考試形式:筆試考試時(shí)間:90 分鐘
四、主要參考教材
1.《光電傳感器應(yīng)用技術(shù)》,王慶有,電子工業(yè)出版社,2007
2.《圖像傳感器應(yīng)用技術(shù)》,王慶有,電子工業(yè)出版社,2003
3.《CCD 應(yīng)用技術(shù)》,王慶有,天津大學(xué)出版社,2000
4.《光電檢測(cè)技術(shù)》,自編教材;
5.《近代光學(xué)測(cè)試技術(shù)》,楊國(guó)光,浙江大學(xué)出版社五、實(shí)驗(yàn)部分
1. 考核內(nèi)容:考核本專業(yè)實(shí)驗(yàn)教學(xué)環(huán)節(jié)中涉及的基本專業(yè)實(shí)驗(yàn),重點(diǎn)考核透鏡、望遠(yuǎn)鏡、直角棱鏡參數(shù)測(cè)量,干涉法測(cè)量微小位移及偏振光實(shí)驗(yàn)原理與激光光路搭建要點(diǎn)。
2. 考核形式:以面試的方式進(jìn)行考核,考生現(xiàn)場(chǎng)隨機(jī)抽取一題,根據(jù)題目簡(jiǎn)述測(cè)量原理、選擇測(cè)量?jī)x器或搭建光路所用光學(xué)元件,并回答考核專家提出的相關(guān)問題。
3. 成績(jī)?cè)u(píng)定:根據(jù)考生自述和回答問題情況,綜合評(píng)定。